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顆粒統計分析測量系統 

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統計分析測量系統，以快速、 簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析。顆粒統計分析測量系統支持用戶(hù)在電鏡操作界面直接收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數據。超越光學(xué)顯微鏡分析，自動(dòng)化的顆粒統計分析測量系統把可視化分析提高到了一個(gè)新臺階，這將在粉末設計、開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng )新。

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來(lái)，以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納電鏡的顆粒系統支持用戶(hù)獲得他們需要的數據。因此，顆粒系統加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

1）聯(lián)機或脫機分析；
2）收集顆粒的屬性數據，例如當量直徑、圓度、長(cháng)軸短軸比、凸包度等；
3）借助超大視野拼圖軟件，可獲得大量顆粒的分析數據；

4）先進(jìn)的識別算法，用戶(hù)自由選擇默認設置或高級設置。